A Complete Quadruple-Node-Upset Recoverable Latch with Enhanced Quintuple-Node-Upset Self-Recoverability

Abstract

방사선 경화 래치(radiation-hardened latch)는 방사선 환경에서 발생할 수 있는 단일 노드 업셋(single-node-upset, SNU) 및 다중 노드 업셋(multiple-node-upset, MNU)으로부터 저장된 데이터를 보호하기 위해 설계된 고신뢰 래치이다. 최근 CMOS 기술 미세화로 인해 MNU의 발생 가능성이 증가함에 따라, 사중 노드 업셋(quadruple-node-upset, QNU) 완전회복 래치가 제안되어 왔지만, 현존하는 래치는 오중 노드 업셋(quintuple-node-upset, QtNU)에 대해서는 완전회복을 보장하지 못한다. 본 논문에서는 모든 QNU에 대해 자가회복이 가능하면서도 향상된 QtNU 자가회복성을 제공하는 래치를 제안하고, 해당 래치의 QNU 및 QtNU 자가회복성을 분석한다.