Suhyeon Kim

A Complete Quadruple-Node-Upset Recoverable Latch with Enhanced Quintuple-Node-Upset Self-Recoverability

방사선 경화 래치(radiation-hardened latch)는 방사선 환경에서 발생할 수 있는 단일 노드 업셋(single-node-upset, SNU) 및 다중 노드 업셋(multiple-node-upset, MNU)으로부터 저장된 데이터를 보호하기 위해 설계된 고신뢰 래치이다. 최근 CMOS 기술 미세화로 인해 MNU의 발생 가능성이 증가함에...