Soo‐Rim Kim

Development of an AI Model for Quality Prediction and Root Cause Tracing of Cathode Materials Based on FeatureMAP Image Analysis

이차전지 양극재 생산 공정은 제품 완성 후 불량 판정 시 수행되는 반복적인 시운전으로 인해 고가의 원자재 손실과 막대한 시간이 소요되는 한계가 있다. 특히 원재료, 제조 공정, 최종 품질 데이터가 순차적으로 축적되지만 데이터 간 발생 시점과 형태가 상이하여 생산 조건과 품질 간의 통합적인...